日本日置IM7583/IM7585阻抗分析儀上市通知
HIOKI這次將發(fā)售阻抗分析儀IM7583和IM7585。
在信息化的現(xiàn)在社會(huì)中，智能手機(jī)等移動(dòng)設(shè)備通過(guò)LTE、Wi-Fi、GPS等，向高頻化發(fā)展，而且該帶寬達(dá)到了數(shù)GHz。隨之，移動(dòng)設(shè)備中所使用的高頻感應(yīng)器和鐵氧體磁珠等電子元件也向高頻化發(fā)展。這些電子元件從按照數(shù)百M(fèi)Hz到1GHz的高頻來(lái)進(jìn)行出廠檢查，所以對(duì)于高頻測(cè)量?jī)x器的需求也日益增加。
這次將發(fā)售的2種機(jī)型，可以測(cè)量超過(guò)去年發(fā)售的IM7580（zui高300MHz的高頻測(cè)量）進(jìn)行高的頻率測(cè)量。IM7583的測(cè)量頻率是1MHz~600MHz，而IM7585是1MHz~1.3GHz，可以滿足高頻化的各種電子元件產(chǎn)品。
而且，IM7583、IM7585兩種機(jī)型通過(guò)zui短0.5ms（0.0005秒）的高速測(cè)量，能夠快速的檢查大量電子元件，從而提高電子元件廠商的生產(chǎn)效率。
日本日置IM7583/IM7585阻抗分析儀主要用途
電子元件廠商的電子元件的出貨檢查
電子儀器廠家的電子元件的入庫(kù)檢查和特性評(píng)估
日本日置IM7583/IM7585阻抗分析儀產(chǎn)品特點(diǎn)
1.IM7583zui高600MHz、IM7585zui高1.3GHz的高頻測(cè)量
IM7583的測(cè)量頻率是1MHz~600MHz，而IM7585是1MHz~1.3GHz。這大大的高于去年發(fā)售的IM7580的測(cè)量頻率（1MHz~300MHz）。
單一頻率測(cè)量的LCR測(cè)試儀的模式的話，可用于判斷出貨檢查的合格與否，頻率變化同時(shí)進(jìn)行測(cè)量的阻抗分析儀的模式的話 ，產(chǎn)品開(kāi)發(fā)的特性評(píng)估和其他領(lǐng)域中。
2.zui快0.5ms的高速測(cè)量和高穩(wěn)定性的測(cè)量，有助于提高生產(chǎn)效率
zui快0.5ms（0.0005秒）的高速測(cè)量。這樣，對(duì)于需要快速檢查大量電子元件的電子元件廠商來(lái)說(shuō)可以大幅提高生產(chǎn)效率。
而且，IM7585的反復(fù)測(cè)量精度是0.07%（1GHz時(shí)的代表值），因此實(shí)現(xiàn)了穩(wěn)定測(cè)量，提高生產(chǎn)的成品率，從而提高生產(chǎn)效率。
3.主機(jī)尺寸小巧化，有助于降低生產(chǎn)成本
在電子元件廠商的生產(chǎn)線中，各種設(shè)備安裝在機(jī)架中組成檢查系統(tǒng)，并進(jìn)行自動(dòng)檢查。因此，和去年發(fā)售的IM7580相同通過(guò)將將主機(jī)大小小型化，縮小檢查系統(tǒng)的體積，并通過(guò)多臺(tái)組合能夠縮短檢查時(shí)間，并降低生產(chǎn)成本。
4.各種各樣的判斷功能，判斷合格與否
單一的頻率測(cè)量的LCR測(cè)試儀的模式的話，具備判斷電子元件的合格與否的比較器功能以及將電子元件排序的BIN功能。比較其功能克設(shè)置上下限值，并以此為判斷標(biāo)準(zhǔn)來(lái)判斷是否合格。相對(duì)于比較器功能的按照判斷標(biāo)準(zhǔn)判斷是否合格，BIN功能則能設(shè)置zui多10種判斷標(biāo)準(zhǔn)，并進(jìn)行排名。
在多種頻率下測(cè)量的分析儀的模式的話，包括從電子元件的頻率特性中可判斷合格與否的區(qū)間判斷、峰值判斷。區(qū)間判斷是為了確認(rèn)測(cè)量值是否進(jìn)入任意設(shè)置的判斷區(qū)域內(nèi)的功能。峰值判斷是判斷共振點(diǎn)的功能。
另外，還全新搭載了任意設(shè)置多種頻率，并按照這個(gè)設(shè)置值判斷合格與否的目標(biāo)判斷功能。
日本日置IM7583/IM7585阻抗分析儀基本參數(shù)
基本精度 Z：0.65%rdg.θ：0.38（代表值）
測(cè)量時(shí)間 zui短0.5ms（模擬測(cè)量時(shí)間）
測(cè)量范圍 100mΩ～5kΩ
測(cè)量頻率 IM7583：1MHz～600MHz IM7585：1MHz～1.3GHz
測(cè)量信號(hào)電平 -40.0dBm～+1.0dBm（4mV～502mV）
